Hiwave水浸相控阵超声检测系统

让内部质量成为判断依据

复杂结构件的内部质量检测，正在从单次验证进入产线全检。Hiwave正式推出P系列水浸相控阵超声检测系统，面向AI液冷散热、CPU/GPU 相关器件及多层结构件等检测场景，在成像精度、扫描效率与检测稳定性之间建立平衡。系统通过水浸相控阵C扫描、批量扫描、自动判读与数据对接能力，让内部质量从图像呈现走向稳定判定。目前，P系列设备已在多条工业产线中实现应用，为复杂结构件的批量检测、质量追溯与产线品控提供了可落地的检测路径。

Hiwave水浸相控阵P800系列

从研发验证，到产线全检

在研发定型阶段，客户更关注局部结构是否清晰、缺陷形态是否可识别、焊接工艺是否稳定。检测结果不仅用于判断“有没有缺陷”，也用于辅助工艺验证和质量标准建立。

当产品进入量产阶段，检测逻辑会从“看清一个样件”转向“稳定判断一批产品”。这时，效率一致性和可追溯性变得更重要。Hiwave水浸相控阵超声检测设备通过水浸相控阵C扫描、批量扫描和自动判读能力，为产线全检与全面品控提供支持。

从研发验证到批量交付，检测不再只是独立的测试动作，而是逐渐成为质量控制链路中的关键环节。

AI自动判读功能介绍

稳定成像，才有稳定判定

Hiwave P800采用水浸相控阵检测方式，通过稳定的声学耦合环境，对工件内部结构进行C扫描成像，减少接触状态对检测信号的影响，为缺陷识别与质量判断提供更可靠的图像基础。

围绕不同尺寸、不同结构工件的检测需求，P800水浸相控阵具备以下能力：

• 稳定成像：探头频率覆盖 5MHz～20MHz，支持C扫描、批量扫描等检测模式。

• 大范围检测：设备有效扫描范围为 1000mm × 700mm × 150mm，*大运动速度 500mm/s。

• 灵活适配：图像推荐分辨率覆盖 100μm～4000μm，可根据检测对象与工艺要求进行适配。

对于焊接界面、封装结构和多层结合区域而言，要解决的不只是“能不能成像”，更是检测结果能否稳定呈现，并持续用于后续判断。

扫描界面展示

相控阵成像与智能判定

一张C扫描图像，是检测的开始。真正服务生产的，是图像之后的判读与判定。针对液冷板、散热器以及CPU/GPU等高可靠部件检测场景，Hiwave水浸相控阵检测设备可通过C扫描成像，将工件内部结构可视化呈现，对空洞、分层、未结合、焊接异常等典型缺陷进行识别与判断。

在CPU、GPU及液冷散热结构检测中，系统能够根据不同工件结构和检测区域进行扫描成像，实现多区域、多层级的稳定检测覆盖。

系统支持自定义模型创建、自定义判定标准、多区域多层拦截、判定算法配置、批量连续检测及MES系统对接。检测结果不再停留在单次图像记录，而是能够进入生产数据链路，为后续质量追溯、统计分析和工艺优化提供依据。

对于AI液冷散热及高可靠部件检测而言，其核心价值在于：内部质量是否可见，缺陷状态是否可判，检测结果是否能够支撑后续工艺和生产判断。

CPU-A面C扫描图像

CPU-A面扫描图像及AI自动判定

让检测进入生产流程

对于高端制造而言，检测设备的价值正在从“发现缺陷”进一步转向“支撑生产判断”。

Hiwave水浸相控阵超声检测设备通过水浸C扫描、批量扫描、自动判读和 MES 对接能力，使内部检测结果能够被记录、判定和追溯。它不仅用于观察内部结构，也用于帮助客户建立更稳定的质量判断依据。

Hiwave水浸相控阵P800系列

检测，不止是发现问题。它让隐藏在内部的结构状态被清晰呈现，也让每一次质量判断有了更稳定的依据。

从研发验证到产线全检，Hiwave水浸相控阵超声检测系统，让复杂结构件的内部质量，真正成为可判定、可追溯的结果。看见内部，是检测的开始。稳定判定，才是质量进入产线的关键。